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纸质出版日期:1981,
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[1]李云陔,,,,,,,,,,杨益秀,,,,,,,,,,王玲,,,,,,,,,,方国柱.色谱法测定四氯化硅中微量硅-氢键化合物[J].光通信研究,1981(03):44-48.
色谱法测定四氯化硅中微量硅-氢键化合物[J]. 1981,(3):44-48.
[1]李云陔,,,,,,,,,,杨益秀,,,,,,,,,,王玲,,,,,,,,,,方国柱.色谱法测定四氯化硅中微量硅-氢键化合物[J].光通信研究,1981(03):44-48. DOI: 10.13756/j.gtxyj.1981.03.004.
色谱法测定四氯化硅中微量硅-氢键化合物[J]. 1981,(3):44-48. DOI: 10.13756/j.gtxyj.1981.03.004.
<正> 光通信研究中
光纤含氢氧基量
对光的衰耗有着极为严重的影响。作为制作光纤的主要原料(四氯化硅)中存在的含氢化合物是氢氧基形成的重要原因之一。因此研究含氢化合物的测定方法
便成为光通信研究中的一个重要课题。文献虽对色谱法测定四氯化硅中含氢化合物的测定方法有过报导
但要求的条件很严
对仪器也有腐蚀问题
加之测定灵敏度也不理想
故有必要研究新的测定方法。
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