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AWG插入损耗性能的分析和改善
    • AWG插入损耗性能的分析和改善

    • The design of low insertion loss arrayed waveguide grating

    • 光通信研究   2003年第3期 页码:56-59
    • 基金信息:
      国家科委“九七三”高科技项目 ( G19990 3 3 10 4);上海市科委光科技专项行动 ( B-2 7)
    • DOI:10.13756/j.gtxyj.2003.03.016    

      中图分类号: TN253
    • 纸质出版日期:2003,

    扫 描 看 全 文

  • [1]万莉,吴亚明,王跃林.AWG插入损耗性能的分析和改善[J].光通信研究,2003(03):56-59. DOI: 10.13756/j.gtxyj.2003.03.016.

    WAN Li 1, WU Ya ming 2, WANG Yue lin 1. The design of low insertion loss arrayed waveguide grating[J]. 2003,(3):56-59. DOI: 10.13756/j.gtxyj.2003.03.016.

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