您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
电信级以太网中的链路高可靠性机制研究
通信系统与网络技术
    • 电信级以太网中的链路高可靠性机制研究

    • Research on the high-reliability mechanism of carrier-level Ethernet links

    • 光通信研究   2009年第2期 页码:19-21
    • DOI:10.13756/j.gtxyj.2009.02.020    

      中图分类号: TN915
    • 纸质出版日期:2009,

    扫 描 看 全 文

  • [1]郑远,卢四清,董喜明.电信级以太网中的链路高可靠性机制研究[J].光通信研究,2009(02):19-21. DOI: 10.13756/j.gtxyj.2009.02.020.

    Zheng Yuan1, Lu Siqing2, Dong Ximing1. Research on the high-reliability mechanism of carrier-level Ethernet links[J]. 2009,(2):19-21. DOI: 10.13756/j.gtxyj.2009.02.020.

  •  
  •  
更多指标>

0

浏览量

72

下载量

10

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

挠性基板光电互联结构的热应力可靠性研究
一种光模块组件的加速硫化腐蚀寿命预估模型
一种高可靠性多环型布拉格光栅传感网络
电力通信网可靠性影响因素的权重分析
850nm VCSEL-TOSA及其在高速通信中的应用

相关作者

暂无数据

相关机构

工业和信息化部电子第五研究所
烽火通信科技股份有限公司
华东交通大学信息工程学院
南京邮电大学光电工程学院
武汉华工正源光子技术有限公司
0