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一种测量圆柱腔内壁介质薄膜厚度的方法
光电器件研究与应用
    • 一种测量圆柱腔内壁介质薄膜厚度的方法

    • A Method for Measuring the Thickness of Dielectric Thin Films on the Inner Wall of a Cylindrical Cavity

    • 光通信研究   2020年第2期 页码:50-56
    • 基金信息:
      河北省自然科学基金资助项目(E2019502039)
    • DOI:10.13756/j.gtxyj.2020.02.011    

      中图分类号: O484.5;TP212
    • 纸质出版日期:2020,

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  • [1]张淑娥,喻星源.一种测量圆柱腔内壁介质薄膜厚度的方法[J].光通信研究,2020(02):50-56. DOI: 10.13756/j.gtxyj.2020.02.011.

    ZHANG Shu-e, YU Xing-yuan. A Method for Measuring the Thickness of Dielectric Thin Films on the Inner Wall of a Cylindrical Cavity[J]. 2020,(2):50-56. DOI: 10.13756/j.gtxyj.2020.02.011.

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